Jiménez G., F.N., Vargas Hernández, C. y Jurado, J.F. 2008. La técnica de fotorreflectancia para analizar propiedades ópticas y mecánicas de muestras semiconductoras. Scientia et Technica. 2, 39 (ago. 2008). DOI:https://doi.org/10.22517/23447214.3267.