JIMÉNEZ G., F. N.; VARGAS HERNÁNDEZ, C.; JURADO, J. F. La técnica de fotorreflectancia para analizar propiedades ópticas y mecánicas de muestras semiconductoras. Scientia et Technica, [S. l.], v. 2, n. 39, 2008. DOI: 10.22517/23447214.3267. Disponível em: https://revistas.utp.edu.co/index.php/revistaciencia/article/view/3267. Acesso em: 7 nov. 2024.