Jiménez G., F. N., C. Vargas Hernández, y J. F. Jurado. «La técnica De Fotorreflectancia Para Analizar Propiedades ópticas Y mecánicas De Muestras Semiconductoras». Scientia Et Technica, vol. 2, n.º 39, agosto de 2008, doi:10.22517/23447214.3267.