Jiménez G. FN, Vargas Hernández C, Jurado JF. La técnica de fotorreflectancia para analizar propiedades ópticas y mecánicas de muestras semiconductoras. Sci. tech [Internet]. 30 de agosto de 2008 [citado 7 de noviembre de 2024];2(39). Disponible en: https://revistas.utp.edu.co/index.php/revistaciencia/article/view/3267